BS-4020A Тринокуларен индустриален микроскоп за вафли
Въведение
Индустриалният инспекционен микроскоп BS-4020A е специално проектиран за инспекции на пластини с различни размери и големи печатни платки. Този микроскоп може да осигури надеждно, удобно и прецизно наблюдение. С перфектно изпълнена структура, оптична система с висока разделителна способност и ергономична операционна система, BS-4020 реализира професионален анализ и отговаря на различни нужди от изследване и инспекция на пластини, FPD, верижен пакет, печатни платки, наука за материалите, прецизно леене, металокерамика, прецизна форма, полупроводници и електроника и др.
1. Перфектна система за микроскопично осветление.
Микроскопът се предлага с осветление на Kohler, осигуряващо ярко и равномерно осветление в цялото зрително поле. Координиран с безкрайна оптична система NIS45, обектив с висока NA и LWD, може да се осигури перфектно микроскопично изображение.
Характеристики
Ярко поле на отразено осветление
BS-4020A използва отлична безкрайна оптична система. Зрителното поле е равномерно, светло и с висока степен на цветопредаване. Подходящо е за наблюдение на проби от непрозрачни полупроводници.
Тъмно поле
Той може да реализира изображения с висока разделителна способност при наблюдение в тъмно поле и да извършва инспекция с висока чувствителност на дефекти като фини драскотини. Подходящ е за повърхностна проверка на проби с високи изисквания.
Ярко поле на предавана светлина
За прозрачни проби, като FPD и оптични елементи, наблюдението на светло поле може да се реализира чрез кондензатор на пропускаща светлина. Може да се използва и с DIC, проста поляризация и други аксесоари.
Проста поляризация
Този метод за наблюдение е подходящ за проби с двойно пречупване като металургични тъкани, минерали, LCD и полупроводникови материали.
Отразено осветление DIC
Този метод се използва за наблюдение на малки разлики в прецизните форми. Техниката за наблюдение може да покаже малката разлика във височината, която не може да се види по обикновен начин за наблюдение под формата на релефни и триизмерни изображения.
2. Висококачествени обективи Semi-APO и APO Bright field & Dark field.
Чрез възприемане на технологията за многослойно покритие, NIS45 серията Semi-APO и APO обективи могат да компенсират сферичната аберация и хроматичната аберация от ултравиолетовата до близката инфрачервена. Остротата, разделителната способност и цветопредаването на изображенията могат да бъдат гарантирани. Може да се получи изображение с висока разделителна способност и плоско изображение за различни увеличения.
3. Операционният панел е в предната част на микроскопа, удобен за работа.
Панелът за управление на механизма е разположен в предната част на микроскопа (близо до оператора), което прави работата по-бърза и удобна при наблюдение на пробата. И може да намали умората, причинена от дълго време на наблюдение и плаващия прах, донесен от голям диапазон на движение.
4. Ergo накланяща се тринокулярна зрителна глава.
Ergo накланящата се глава за гледане може да направи наблюдението по-удобно, така че да сведе до минимум мускулното напрежение и дискомфорта, причинени от дългите часове работа.
5. Механизъм за фокусиране и дръжка за фина настройка на сцената с ниско положение на ръката.
Фокусиращият механизъм и дръжката за фина настройка на сцената приемат дизайн с ниска позиция на ръката, който съответства на ергономичния дизайн. Потребителите няма нужда да вдигат ръце, когато работят, което дава най-висока степен на комфортно усещане.
6. Сцената има вградена дръжка за захващане.
Дръжката за захващане може да реализира режима на бързо и бавно движение на платформата и може бързо да локализира проби с голяма площ. Вече няма да е трудно да се локализират пробите бързо и точно при съвместно използване с дръжката за фина настройка на сцената.
7. Извънгабаритната сцена (14”x 12”) може да се използва за големи вафли и печатни платки.
Областите на микроелектронни и полупроводникови проби, особено пластини, са склонни да бъдат големи, така че обикновеният металографски микроскоп не може да отговори на техните нужди за наблюдение. BS-4020A има огромна сцена с голям диапазон на движение и е удобна и лесна за преместване. Така че той е идеален инструмент за микроскопско наблюдение на индустриални проби с голяма площ.
8. 12” държач за вафли се доставя с микроскопа.
С този микроскоп могат да се наблюдават 12-инчови пластини и пластини с по-малък размер, с дръжка на етапа за бързо и фино движение, което може значително да подобри ефективността на работа.
9. Антистатично защитно покритие може да намали праха.
Промишлените проби трябва да са далеч от плаващ прах, а малко прах може да повлияе на качеството на продукта и резултатите от теста. BS-4020A има голяма площ от антистатично защитно покритие, което може да предотврати плаващия прах и падащия прах, така че да защити пробите и да направи резултата от теста по-точен.
10. По-дълго работно разстояние и висока NA обектив.
Електронните компоненти и полупроводниците на образците на печатни платки имат разлика във височината. Поради това в този микроскоп са приети обективи на дълги работни разстояния. Междувременно, за да се задоволят високите изисквания на индустриалните проби за възпроизвеждане на цветовете, технологията за многослойно покритие е разработена и подобрена през годините и са приети BF&DF semi-APO и APO обектив с висока NA, които могат да възстановят реалния цвят на пробите .
11. Различни методи за наблюдение могат да отговорят на различни изисквания за тестване.
| Осветеност | Светло поле | Тъмно поле | DIC | Флуоресцентна светлина | Поляризирана светлина |
| Отразена светлина | ○ | ○ | ○ | ○ | ○ |
| Предадено осветление | ○ | - | - | - | ○ |
Приложение
Индустриалният инспекционен микроскоп BS-4020A е идеален инструмент за инспекции на пластини с различни размери и големи печатни платки. Този микроскоп може да се използва в университети, фабрики за електроника и чипове за изследване и проверка на пластини, FPD, вериги, PCB, наука за материалите, прецизно леене, металокерамика, прецизни форми, полупроводници и електроника и др.
Спецификация
| Артикул | Спецификация | BS-4020A | BS-4020B | |
| Оптична система | NIS45 оптична система с корекция на безкраен цвят (дължина на тръбата: 200 mm) | ● | ● | |
| Гледаща глава | Ergo Tilting Trinocular Head, регулируем 0-35° наклон, междузенично разстояние 47mm-78mm; съотношение на разделяне Окуляр:Тринокъл=100:0 или 20:80 или 0:100 | ● | ● | |
| Тринокулярна глава на Seidentopf, наклонена 30°, междузенично разстояние: 47mm-78mm; съотношение на разделяне Окуляр:Тринокъл=100:0 или 20:80 или 0:100 | ○ | ○ | ||
| Бинокулярна глава Seidentopf, наклонена 30°, междузенично разстояние: 47mm-78mm | ○ | ○ | ||
| Окуляр | Окуляр със супер широк план на полето SW10X/25 mm, регулируем диоптър | ● | ● | |
| Окуляр със супер широк план на полето SW10X/22 mm, регулируем диоптър | ○ | ○ | ||
| Окуляр с изключително широк план на полето EW12,5X/17,5 mm, регулируем диоптър | ○ | ○ | ||
| Окуляр с широко поле WF15X/16 mm, регулируем диоптър | ○ | ○ | ||
| Окуляр с широко поле WF20X/12 мм, регулируем диоптър | ○ | ○ | ||
| Обективна | NIS45 Infinite LWD Plan Semi-APO Objective (BF & DF), M26 | 5X/NA=0,15, WD=20 мм | ● | ● |
| 10X/NA=0,3, WD=11 мм | ● | ● | ||
| 20X/NA=0.45, WD=3.0mm | ● | ● | ||
| NIS45 Infinite LWD Plan APO Objective (BF & DF), M26 | 50X/NA=0.8, WD=1.0mm | ● | ● | |
| 100X/NA=0.9, WD=1.0mm | ● | ● | ||
| NIS60 Infinite LWD Plan Semi-APO Objective (BF), M25 | 5X/NA=0,15, WD=20 мм | ○ | ○ | |
| 10X/NA=0,3, WD=11 мм | ○ | ○ | ||
| 20X/NA=0.45, WD=3.0mm | ○ | ○ | ||
| NIS60 Infinite LWD Plan APO Objective (BF), M25 | 50X/NA=0.8, WD=1.0mm | ○ | ○ | |
| 100X/NA=0.9, WD=1.0mm | ○ | ○ | ||
| Накрайник за нос | Назад Шест накрайник (с DIC слот) | ● | ● | |
| Кондензатор | LWD кондензатор NA0.65 | ○ | ● | |
| Предадено осветление | 40W LED захранване с оптичен световод, регулируем интензитет | ○ | ● | |
| Отразена светлина | Отразена светлина 24V/100W халогенна лампа, осветяване на Koehler, с 6 позиции | ● | ● | |
| Къща с халогенна лампа 100W | ● | ● | ||
| Отразена светлина с 5W LED лампа, осветяване на Koehler, с 6 позиционен револвер | ○ | ○ | ||
| BF1 модул за светло поле | ● | ● | ||
| BF2 модул за светло поле | ● | ● | ||
| DF модул за тъмно поле | ● | ● | ||
| Вграден филтър ND6, ND25 и филтър за корекция на цвета | ○ | ○ | ||
| ECO функция | ECO функция с ECO бутон | ● | ● | |
| Фокусиране | Коаксиално грубо и фино фокусиране с ниска позиция, фино деление 1μm, обхват на движение 35 mm | ● | ● | |
| Етап | 3-слойна механична платформа с дръжка за захващане, размер 14”x12” (356mmx305mm); обхват на движение 356mmX305mm; Светеща площ за пропускаща светлина: 356x284mm. | ● | ● | |
| Държач за вафла: може да се използва за задържане на 12” вафла | ● | ● | ||
| DIC комплект | DIC комплект за отразена светлина (може да се използва за 10X, 20X, 50X, 100X обективи) | ○ | ○ | |
| Поляризиращ комплект | Поляризатор за отразена светлина | ○ | ○ | |
| Анализатор за отразена светлина, въртящ се на 0-360° | ○ | ○ | ||
| Поляризатор за предавана светлина | ○ | ○ | ||
| Анализатор за преминала светлина | ○ | ○ | ||
| Други аксесоари | 0.5X C-mount адаптер | ○ | ○ | |
| 1X C-mount адаптер | ○ | ○ | ||
| Прахоуловител | ● | ● | ||
| Захранващ кабел | ● | ● | ||
| Плъзгач за калибриране 0,01 мм | ○ | ○ | ||
| Преса за проби | ○ | ○ | ||
Забележка: ● Стандартно облекло, ○ По избор
Примерно изображение
Измерение
Единица: mm
Диаграма на системата
Сертификат
Логистика
